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smt专业术语中英文及功能说明
日期:2021-12-27 10:32
作者:宝尔威
浏览量:1644

SMT 表面贴装技术 surface mounting technology:目前主流的PCBA生产技术。

ESD 静电放电(dian)   ;  Electrostatic Discharge:生产(chan)PCBA过程各工(gong)序中(zhong),都需(xu)要进(jin)行静电(dian)放电(dian)。

ESSD/SSD 静(jing)电敏感器(qi)(qi)件(jian)(jian)  Electrostatic Sensitive Device:容易被静(jing)电击穿或(huo)者临时影响性能的电子元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)(jian)。

EPA ESD防(fang)护(hu)区(qu)域 ESD Protect Area:静电(dian)防(fang)护(hu)区(qu)域,避免物(wu)料、半成品(pin)、成品(pin)出现(xian)静电(dian)性(xing)能下(xia)降或(huo)者受损。

RoHS 危害物质禁用指令 Restriction of Hazardous Substance:例如含铅锡膏对人(ren)体具有毒性,有禁用需求。

MSD 潮湿敏感元器(qi)件 Moisture-Sensitive Device:对潮湿环境(jing)敏感的(de)电子元器(qi)件。

MBB 防潮真空包(bao)(bao)装袋  Moisure Barrier Bag:对物料真空包(bao)(bao)装,可防潮防氧化。

MSL 湿度(du)敏(min)感等(deng)级  Moisure Sensitive Level:因(yin)受潮而性能下降(jiang)、损坏的物料(liao)等(deng)级。

HIC 湿度(du)显示卡 Humidity Indicator Card:用于(yu)检测物料受(shou)潮程度(du),以决定使用前是否需要(yao)烘烤(kao)。。 

PCB 印刷电路板 printed board:通常(chang)为空(kong)的电路板。

Feeder 飞达供料器:用于贴片机物料供应的装置。

FQC 制造过(guo)程最终检查 Final Quality Control:产品最终检查。

IPQC 制(zhi)造过(guo)程控制(zhi) InPut Process Quality Control:过(guo)程控制(zhi)。

IQC 来料(liao)(liao)质量控(kong)制  Incoming Quality Control:来料(liao)(liao)控(kong)制。

QA  品质保证 Quality Assurance:品检控制。

OQC 出(chu)货品(pin)质检验 outgoing quality control:出(chu)货前(qian)品(pin)质检查。

CPK 制程控制能力 complex process capability index:

AOP 标准作业指导书 standard operation procedure:产(chan)线批量生产(chan)时的工序流程知道说明书。

BOM 物料清单  bill of material:生产(chan)物料清单。

ECN 工程内容变更通知单(dan) engineering change notice:生(sheng)产变更单(dan)。

SPC 统(tong)计制(zhi)程管制(zhi) statistical process control:统(tong)计流(liu)程。

5S  整(zheng)(zheng)理SEIRI 整(zheng)(zheng)顿SEITON  清(qing)扫SEISO  清(qing)洁(jie)SEIKETSU  素(su)养SHITSUKE :生产环境(jing)和人员规范。

SMT中英文.jpg

smt专业术语中英文(wen)


印(yin)刷机 printer:SMT中用(yong)于印(yin)刷锡(xi)膏的机器设备

炉后检验 inspection after soldering:回流焊或者波峰焊PCBA产品检测。

贴片完(wan)成经回流炉(lu)焊(han)接或固化的PCBA质量检验

返修 reworking:设备检测PCBA出现问题,需(xu)要人(ren)工按提示进行修理(li),对(dui)PCB上错误进行修复。

AOI  机器视觉检验 在线光(guang)学检测(ce)仪:可用于炉(lu)前或者炉(lu)后对(dui)电路(lu)板进行(xing)检测(ce),大多是桌面式(shi)。

X-RAY X光检(jian)测(ce)仪:一种对电子元件(jian)或者产品内部结构进行X光检(jian)测(ce)的(de)(de)设备,可检(jian)测(ce)出肉眼或者普(pu)通检(jian)测(ce)设备无法检(jian)测(ce)的(de)(de)隐患。

贴片机  mount:用于贴装片式物料,如电阻电容电感

回流焊  reflow:用于片式物料贴装后(hou)的(de)锡(xi)膏焊接、固化(hua)。

波峰(feng)焊  wave solder:用于(yu)插(cha)件式物料(liao)或者有(you)针脚的异型电子元器件的锡(xi)液焊接。

在线测试  ICT test:可与AOI配合(he),完成对PCBA的炉(lu)后检(jian)测。

封装  Package:芯(xin)片的封装(zhuang)方式决定了生产工艺的先进程度。

QFP IC :采用QFP方(fang)式封装的IC。

单(dan)(dan)面(mian)印(yin)刷板  single-sided printed board:单(dan)(dan)面(mian)印(yin)刷贴装电(dian)(dian)子元器件的电(dian)(dian)路(lu)板,对电(dian)(dian)路(lu)板区域利用率(lv)非常(chang)低,基本淘汰(tai)。

双面(mian)(mian)印制(zhi)板 double-sided printed board:双面(mian)(mian)电路板,单(dan)块电路板两面(mian)(mian)都印刷(shua)贴(tie)装电子元(yuan)器件(jian)。

多层(ceng)印制板(ban) multilayer printed board:多层(ceng)电路(lu)(lu)印刷板(ban),线路(lu)(lu)非常(chang)复杂集成(cheng)非常(chang)高的(de)双面电路(lu)(lu)板(ban)。

润湿(shi)时(shi)间 Wave soldering wetting time:是指焊(han)点与焊(han)料接触后开始的时(shi)间点。

停留时间 Wave soldering dwell time:是(shi)PCB焊点(dian)从接触波峰(feng)面(mian)到离开波峰(feng)面(mian)的(de)时间=波峰(feng)宽/速度。

预热温(wen)度 Wave soldering preheating temperature:PCB与波峰面接触前(qian)到达的温(wen)度(根据板(ban)型(xing)及元器件方式(shi),控制在90-125°C)。

焊(han)(han)接(jie)温度 Wave soldering temperature:通常高(gao)于焊(han)(han)料熔点183°C的50-60°C,即控制(zhi)在233°C-243°C,焊(han)(han)点温度低于炉温是因为PCB吸热(re)。

波峰高(gao)(gao)度(du) Wave crest height of wave soldering:是PCB接(jie)触锡液的(de)高(gao)(gao)度(du),应(ying)控(kong)制在PCB板(ban)厚度(du)的(de)1/2-2/3,避免出现桥联。

传(chuan)送(song)倾(qing)角 Wave soldering transmission angle:是传(chuan)送(song)装置的倾(qing)角,可(ke)以(yi)(yi)通过对(dui)倾(qing)角的调(diao)节,调(diao)整PCB与波(bo)峰(feng)面的接触(chu)时(shi)间,还可(ke)以(yi)(yi)使得(de)多(duo)余(yu)焊料液体更快(kuai)的脱(tuo)落。

热(re)风刀(dao)Wave soldering hot air knife:是指(zhi)SMA刚离开焊接(jie)波峰后,在SMA下方放(fang)一个(ge)窄(zhai)长的带(dai)空腔、能吹出刀(dao)状的热(re)气流。

热风回(hui)流焊(han) refolw soldering:通过熔化印(yin)刷在PCB焊(han)盘(pan)上的锡膏,实现(xian)表面贴装元器件与PCB焊(han)盘(pan)的连接。

锡(xi)膏(gao)工艺  solder paste technology:锡(xi)膏(gao)本(ben)身工艺也影响(xiang)着PCBA生产(chan)质量。

锡膏  solder paste:由焊料合金、助焊剂、添加剂组成有(you)一定粘度(du)和触(chu)变(bian)性的焊膏。

Nets测试(shi):一种批量化测试(shi),或者是样(yang)本取样(yang)较大的测试(shi),用于减少测试(shi)时间(jian)。

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